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纳米粒度及zeta电位仪

简要描述:纳米粒度及zeta电位仪光学系统:
3mW780nm半导体固定位置激光器,通过梯度步进光纤直接照射样品,在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号,无需校正光路

  • 产品型号:NANOTRAC WAVE II
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2022-05-20
  • 访  问  量:1979

详细介绍

品牌其他品牌产地类别国产
应用领域医疗卫生,环保,化工,生物产业,能源

NANOTRAC WAVE II纳米粒度及zeta电位仪采用*的“Y”型光纤探针光路设计,配置膜电极产生微电场,操作简单,测量迅速,无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层,无需外加大功率电场,无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池,*消除由于空间位阻(不同光学元器件间的传输损失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差异,分散介质的影响,颗粒间多重散射等)带来的光学信号的损失,结果准确可靠,重现性好。

纳米粒度测量——*的动态光背散射技术

Zeta电位测量:Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技术和颗粒表征方面的独到见解,经过多年的市场调研和潜心研究,开发出新一代NANOTRAC WAVE II微电场分析技术,融纳米颗粒粒度分布与Zeta电位测量于一体,无需传统的比色皿,一次进样即可得到准确的粒度分布和Zeta电位分析数据。与传统的Zeta电位分析技术相比,NANOTRAC WAVE II采用*的“Y”型光纤探针光路设计,配置膜电极产生微电场,操作简单,测量迅速,无需精确定位由于电泳和电滲等效应导致的静止层,无需外加大功率电场,无需更换分别用于测量粒度和Zeta电位的样品池,*消除由于空间位阻(不同光学元器件间的传输损失,比色皿器壁的折射和污染,比色皿位置的差异,分散介质的影响,颗粒间多重散射等)带来的光学信号的损失,结果准确可靠,重现性好。

NANOTRAC WAVE II纳米粒度及zeta电位仪测量原理:

粒度测量:动态光背散射技术和全量程米氏理论处理

Zeta电位测量:膜电极设计与“Y”型探头形成微电场测量电泳迁移率

分子量测量:水力直径或德拜曲线

光学系统:

3mW780nm半导体固定位置激光器,通过梯度步进光纤直接照射样品,在固定位置用硅光二极管接受背散射光信号,无需校正光路。

软件系统:

*的FLEX软件提供强大的数据处理能力,包括图形,数据输出/输入,个性化输出报告,及各种文字处理功能,如PDF格式输出, Internet共享数据,Microsoft Access格式(OLE)等。体积,数量,面积及光强分布,包括积分/微分百分比和其他分析统计数据。数据的完整性符合21 CFR PART 11安全要求,包括口令保护,电子签名和授权等。

外部环境:

电源要求:90-240VAC,5A,50/60Hz

环境要求:温度,10-35°C

国际标准:符合ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008

主要特点:

• 采用*的动态光散射技术,引入能普概念代替传统光子相关光谱法

• “Y”型光纤光路系统,通过蓝宝石测量窗口,直接测量悬浮体系中的颗粒粒度分布,在加载电流的情况下,与膜电极对应产生微电场,测量同一体系的Zeta电位, 避免样品交叉污染与浓度变化。

• 异相多谱勒频移技术,较之传统的方法,获得光信号强度高出几个数量级,提高分析结果的可靠性。

• 可控参比方法(CRM),能精细分析多谱勒频移产生的能谱,确保分析的灵敏度。

• 超短的颗粒在悬浮液中的散射光程设计,减少了多重散射现象的干扰,保证高浓度溶液中纳米颗粒测试的准确性。

• 快速傅利叶变换算法(FFT,Fast FourierTransform Algorithm Method),迅速处理检测系统获得的能谱,缩短分析时间。

• 膜电极设计,避免产生热效应,能准确测量颗粒电泳速度。

• 无需比色皿,毛细管电泳池或外加电极池,仅需点击Zeta电位操作键,一分钟内即可得到分析结果

• 消除多种空间位阻对散射光信号的干扰,诸如光路中不同光学元器件间传输的损失,样品池位置不同带来的误差,比色皿器壁的折射与污染,分散介质的影响,多重散射的衰减等,提高灵敏度。

产品参数:
粒度分析范围 0.3nm-10µm
重现性 误差≤1%
浓度范围 100ppb-40%w/v
检测角度 180°
分析时间 30-120秒
准确性 全量程米氏理论及非球形颗粒校正因子
测量精度 无需预选,依据实际测量结果,自动生成单峰/多峰分布结果
理论设计温度 0-90℃,可以进行程序升温或降温
兼容性 水相和有机相

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